說(shuō)說(shuō)二極管陣列檢測(cè)器的發(fā)展歷史
2017-10-11
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二極管陣列檢測(cè)器 即光電二級(jí)陣列管檢測(cè)器又稱光電二極管列陣檢測(cè)器或光電二極管矩陣檢測(cè)器，表示為PDA（photo-diode array）、PDAD（photo-diode array detector）或（Diode array detector，DAD）是20世紀(jì)80年代出現(xiàn)的一種光學(xué)多通道檢測(cè)器。在晶體硅上緊密排列一系列光電二極管，每一個(gè)二極管相當(dāng)于一個(gè)單色器的出口狹縫，二極管越多分辨率越高，一般是一個(gè)二極管對(duì)應(yīng)接受光譜上一個(gè)納米譜帶寬的單色光。此外，還有的商家稱之為多通道快速紫外-可見(jiàn)光檢測(cè)器（multichannel rapid scanning UV-VIS detector），三維檢測(cè)器（three dimensional detector）等。光電二極管陣列檢測(cè)器目前已在液相色譜分析中大量使用，一般認(rèn)為是液相色譜zui有發(fā)展、的檢測(cè)器。
在二極管陣列的前端加上Eltech 閃爍晶體，將射線轉(zhuǎn)為可見(jiàn)光，再使用PCB1024 AD 和USB 模塊轉(zhuǎn)為電子信號(hào)，也可以用于在射線的檢測(cè)中。
光電二極管陣列檢測(cè)器的開(kāi)發(fā)是近10多年內(nèi)液相色譜技術(shù)zui重要的進(jìn)步。1975 年Talmi報(bào)道了二極管陣列系統(tǒng)的使用，后來(lái)Yates、Kuwanan和Milano)(35等人對(duì)該項(xiàng)技術(shù)做了進(jìn)一步發(fā)展。1982 年惠普公司推出世界上*臺(tái)商品化二極管陣列檢測(cè)器HP 1040A（圖4-3-14），是根據(jù)該公司開(kāi)發(fā)的*臺(tái)光電二極管陣列分光光度計(jì)技術(shù)設(shè)計(jì)而成的。從此液相色譜分析獲得許多重大發(fā)展，一次進(jìn)樣可得到更多的信息，數(shù)據(jù)處理更快，不僅可以克服普通紫外可見(jiàn)吸收檢測(cè)器的缺點(diǎn)，而且還能獲得色譜分離組分的三維光譜色譜圖，為分析工作者提供十分豐富的定性定量信息。此后該種檢測(cè)器又有一些新的改進(jìn)，獲得了更好的波長(zhǎng)分辨率和更高的靈敏度。光學(xué)多通道檢測(cè)技術(shù)不僅僅可以采用光電二極管陣列做為光電檢測(cè)元件。硅光導(dǎo)攝像管是首先被應(yīng)用到液相色譜陣列檢測(cè)器的光電檢測(cè)元件，但由于紫外響應(yīng)弱，成本比光電二極管陣列高，響應(yīng)慢等缺點(diǎn)而較少應(yīng)用。電荷耦合陣列檢測(cè)器（charge-coupied device array detector，CCD檢測(cè)器）具有很多優(yōu)異的性能：光譜范圍寬、量子效率高、暗電流小、噪聲低、線性范圍寬等。但CCD檢測(cè)器的紫外響應(yīng)弱，信號(hào)收率低，有礙它的進(jìn)一步發(fā)展。其它的光電檢測(cè)元件同樣具有以上這些缺點(diǎn)，因此光電二極管成為目前zui主要、zui常用的光學(xué)多通道檢測(cè)技術(shù)的光電檢測(cè)元件。
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